| KatalogiD: | 5131152 |
| DersKodu: | FİZ555 |
| DersAdi: | İnce Film Karakterizasyonu |
| DersAdi(İngilizce): | Thin Film Characterization |
| Teo: | 3 |
| Uyg: | 0 |
| Lab: | 0 |
| Kredi: | 3 |
| ECTS Kredi: | 6 |
| icerik: | Yarı iletken ince filmlerin x-ışını analizi. Taramalı tünelleme mikroskobu(STM). Taramalı elektron mikroskobu(SEM). Elektron mikroskobu analizleri(EMA). İnce filmlerin optiksel, elektriksel, manyetik ve mekanik özelliklerini inceleme teknikleri. İnce filmlerin buharlaştırma oranının ve kalınlıklarının ölçülmesi ve yöntemleri. Ince filmlerin uygulama alanları. |
| İcerik(İngilizce): | X-ray analysis of semi-conducting thin films. Scanning tunneling microscope(STM). Scanning electron microscope(SEM). Electron microscope analysis. The investigation methods of optical, electrical, magnetic and mechanical properties of thin films. Measuring methods of the evaporation ratio and thickness of thin films. Application areas of thin films. |